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        簡述進口電子顯微鏡的襯度像

        發布日期: 2022-07-01
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           在材料領域中,進口電子顯微鏡技術發揮著重要的作用,被廣泛應用于各種材料的形態結構、界面狀況、損傷機制及材料性能預測等方面的研究。利用它可以直接研究晶體缺陷及其產生過程,可以觀察金屬材料內部原子的集結方式和它們的真實邊界,也可以觀察在不同條件下邊界移動的方式,還可以檢查晶體在表面機械加工中引起的損傷和輻射損傷等。
         
          進口電子顯微鏡是利用二次電子和背散射電子信號,通過真空系統、電子束系統和成像系統獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息,如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等的一種儀器。隨著科學技術水平的提高,其放大倍數可達幾十萬倍,分辨率可達納米級別。
         

         

          下面咱們來了解下進口電子顯微鏡的襯度像:
         
          1、背散射電子像
         
          背散射電子是被固體樣品中的原子核反彈回來的一部分入射電子,背散射電子來自樣品表層幾百納米的深度范圍。由于它的產能隨樣品原子序數增大而增多,所以不僅能用作形貌分析,而且可以用來顯示原子序數襯度,定性地用作成分分析。
         
          2、二次電子像
         
          在入射電子束作用下被轟擊出來并離開樣品表面的核外電子叫做二次電子。這是一種真空中的自由電子。二次電子一般都是在表層5~10nm深度范圍內發射出來的,它對樣品的表面形貌十分敏感,因此,能非常有效地顯示樣品的表面形貌。二次電子的產額和原子序數之間沒有明顯的依賴關系,所以不能用它來進行成分分析。
         
          背散射電子信號強度要比二次電子低的多,所以粗糙表面的原子序數襯度往往被形貌襯度所掩蓋。
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